介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定機(jī)采用了多項先進(jìn)技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。 自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗試驗裝置作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項先進(jìn)技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗試驗儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項先進(jìn)技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試裝置作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項先進(jìn)技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測量儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進(jìn)升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進(jìn)升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進(jìn)升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。在介質(zhì)損耗測試時，當(dāng)材料的損耗較大時，介質(zhì)損耗值會出現(xiàn)錯誤。）但又無法得到升級完善，產(chǎn)品沒有新增的功能。因此請廣大用戶注意識別。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項先進(jìn)技術(shù)：$n雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。$n雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。$n雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。